高精度振镜扫描光电流测试系统为微纳器件（尤其是片上光电器件）的光电响应测试提供了优良的测试平台，纳米级逐点扫描模式精确表征片上微纳器件的空间光电响应特性；实时观察空间各点的电压、电流输出；逐点测试I-V特征曲线；可根据客户需求定制化产品，比如扩展低温、光谱测试等功能。
基本配置参数：
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电学测试盒
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包括：测试盒，测试座，测试线，28针。
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光电测试配置
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前置放大器，锁相放大器
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样品台
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四维度。XYZ三轴平移，行程13 mm，分辨率1 um。 θ旋转，粗调360°微调±7°，最小读数0.2°，分辨率0.01°
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振镜扫描
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扫描步进精度<20nm, 扫描范围>100um
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显微镜
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20X，50X，100X
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激光器
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532nm，光纤输出，激光控制器，可任意添加其他波段激光
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环境
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可做暗室屏蔽
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软件
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基于Labview编写，全自动扫描，实时结果显示。可根据客户需求升级软件功能。
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其他选配功能
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（1）低温（77K），分为简易版（77K，不可变温），中配版（液氮制冷，可变温），高配版（液氦制冷，可变温，台式闭循环/循环流恒温器）
（2）源表I-V测量（mapping），实现器件的I-V测量，
（3）光谱测试，配备光谱仪，可进行样品空间扫描荧光测试。
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测试结果展示：
应用领域：
微纳器件的光电响应测试，包括：石墨烯，二维材料，微纳半导体材料，有机材料等制备的光电器件表征。
